105.jpg

Máy phân tích bề mặt tốc độ cao

Taylor Hobson - CCI MP-HS

Lý tưởng cho việc nghiên cứu, CCI MP-HS đo tất cả các thông số bề mặt từ rất nhám đến rất bóng, cung cấp khả năng đo linh hoạt trên nhiều loại mẫu khác nhau

Đặc Tính Kỹ Thuật

  • Độ phân giải cao đến 1048 x 1048 pixel với góc quan sát rộng
  • Công nghệ đính ghép hình ảnh cao cấp cho các trục X, Y và Z, mở rộng dải đo
  • Độ lặp lại hiệu dụng (RMS) < 0.2 Å, Độ lặp lại trên mẫu bậc < 0.1%
  • Tích hợp bàn chống rung, giảm thiểu các tín hiệu nhiễu tạp, tối ưu hóa hiệu suất cho hệ thống
  • Phần mềm điều khiển và phân tích Windows 64-bit đa ngôn ngữ

Thông Số Kỹ Thuật

Overview
System
Measurement type3D non-contact
Measurement modeCoherence Correlation Interferometry (CCI)
Z scannerUltra high precision closed loop piezoless scanner
Objective mount3 position turret
X/Y StageAutomatic
Z stageAutomatic
Performance
Single scan range (Z)2.2 mm as standard (closed loop)
Z-stitching rangeUp to the working distance of the lens (current maximum is 40 mm)
Z-resolution (max)0.01 nm
Noise floor (Z)<0.05 nm [0.5 Å]
Repeatability of surface RMS<0.01 nm [0.1 Å]
Number of measurement points1024 x 1024
Step height repeatability< 0.02 %
Surface reflectivity<0.34 % - 100%

Bạn quan tâm đến sản phẩm?
Cần báo giá sản phẩm hoặc thiết bị?

Hãy liên hệ với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi để nhận được sự tư vấn miễn phí và chuyên nghiệp