9Z1XV8NNnYhnKoQqIVe9IuMDPicdr1m7pJ5GJF1N.png
Phân tích vật liệu OES - XRF - LIBS
Hitachi - Foundry Master Smart
Máy quang phổ (OES) phân tích hợp kim để bàn

Hitachi - Foundry Master Smart

Máy quang phổ phân tích hợp kim FOUNDRY-MASTER Smart là giải pháp lý tưởng với chất lượng từ CHLB Đức và giá cả cạnh tranh nhất thị trường.

Đặc Tính Kỹ Thuật

Máy quang phổ phân tích hợp kim FOUNDRY-MASTER Smart được sử dụng trong lĩnh vực phân tích thành phần vật liệu ngày càng nhiều hơn để giám sát thành phần hóa học của các nguyên tố trong kim loại.

Khác với các dòng máy tương tự của các hãng sản xuất khác,  thiết bị của hãng Hitachi high-tech sử dụng nhiều công nghệ vượt trội như sử dụng cảm biến CCD, công nghệ Jet- stream, auto profiling…

  • Máy quang phổ phân tích hợp kim FOUNDRY-MASTER Smart (FMS) là dòng thiết bị phân tích thành phần kim loại có độ chính xác cao trong phòng thí nghiệm. Máy quang phổ phân tích hợp kim sử dụng phương pháp quang phổ phát xạ rất phổ biến trong phân tích hợp kim nhờ khả năng phân tích được nguyên tố carbon. Bộ nguồn tạo tia lửa điện thế hệ mới của thiết bị đảm bảo khả năng kích thích tối ưu cho nhiều loại hợp kim khác nhau. Hệ quang học Multi-CCD độ phân giải cao sử dụng buồng công nghệ Argon cho phép phân tích chính xác cho toàn bộ dải phổ cho tất cả các hợp kim với các nền khác nhau
  • Bộ giá kẹp mẫu với kết cấu mở cả 3 chiều, cho phép việc phân tích an toàn, hiệu quả cho các mẫu với hình dạng khác nhau, kể cả có hình dạng bất thường. Hơn thế nữa máy quang phổ phân tích hợp kim FOUNDRY-MASTER Smart (FMS) sử dụng công nghệ Jet-stream-Technology bao phủ hiệu quả điện cực và mẫu trong giá kẹp mẫu với 1 dòng khí argon, giúp hệ thống đạt được 2 lợi thế:
    • Tiêu hao khí argon rất ít, giảm chi phí vận hành xuống mức tối thiểu
    • Không cần phải làm kín các mặt hở của giá thử cho phép đặt mẫu phân tích dạng ống, thanh, dây trên giá thử một cách dễ dàng. Việc này cho phép giảm tối đa thời gian chuẩn bị mẫu.
  • Phần mềm GRADE Database có 12 triệu tên gọi của 339,000 loại vật liệu từ 69 quốc gia và vùng lãnh thổ.
Ứng Dụng

Kiểm tra thành phần vật liệu trong hợp kim Thép, Thép Cacbon thấp, Inox

Kiểm tra thành phần vật liệu trong hợp kim Đồng, Kẽm, Nhôm, Nickel, Cobalt, Crom, Titanium

Sử dụng trong các nhà máy thép, luyện kim, sản xuất tôn tấm, ống thép, ống thép chịu lực cao, nhà tiền chế...

Thông Số Kỹ Thuật
Tổng quan
Kích thước280 x 415 x 665 mm (HxWxD)
Nguồn điện90-250 VAC (50/60 Hz)
Khối lượng35 kg
Công suất tiêu thụ trung bìnhMáy chính 700W
Công suất tiêu thụ chế độ chờ50W (Công suất nguồn 100W)
Khí Argon
Độ tinh khiết≥5.0
Áp lực3 Bar
Hệ thống quang học
Hệ quang họcTheo nguyên lý Paschen-Runge Mounting
Đường truyền ánh sáng trực tiếp đến buồng quang học.
Dải bước sóng phân tích175 – 420nm (mở rộng đến 671nm cho Cu, Na,Li)
Cảm biếnCảm biến Multi-CCD (2048 pixel per chip) với độ phân giải Pixel được tối ưu hóa.
Độ phân giải CCD 7 pico-meter
Độ tương phản1.75 nm/m (1st order)
Tiêu cự300 mm
Holographic grating1774 grooves/mm
Bộ phát plasmaKỹ thuật phát tia lửa điện năng lượng cao (HEPS) giúp đốt mẫu tốt hơn
Cài đặt các thông số bằng phần mềm
Tần số: 80 – 500 Hz
Điện áp: 250- 500 V
Bộ giá kẹp mẫuBộ giá kẹp mẫu với kết cấu mở cả 3 chiều, có thể đặt có những mẫu có kích thước
Kết cấu Jet-Stream-electrode cho thực hiện trên các mẫu nhỏ và mẫu có hình dạng phức tạp. Tối ưu hóa mức tiêu thụ Argon là thấp nhất.
Bàn kẹp mẫu được điều chỉnh đa năng
Tấm nắp có thể thay đổi cho từng loại mẫu khác nhau.
Giới hạn phân tích của 1 số nguyên tố chínhC: 30ppm; Si: 20ppm; P: 20ppm; S:20ppm; Mn:20ppm

Sản Phẩm Cùng Danh Mục

Không có sản phẩm nào